涂層測厚儀分體CM8826N

上海雙旭涂層測厚儀 分體型 CM8826N

產(chǎn)品概述

CM8826N是一款分體式設(shè)計的磁性、渦流兩用涂層測厚儀，適用于精確測量鐵基及非鐵基體上的涂層、鍍層厚度。其分體式探頭設(shè)計特別便于測量狹窄空間、凹面、管道內(nèi)壁等復(fù)雜位置的厚度。

產(chǎn)品參數(shù)

• 測量原理：磁性感應(yīng)（Fe）、渦流感應(yīng)（NFe）
• 測量范圍：
  • Fe（鐵基）：0~1250μm
  • NFe（非鐵基）：0~1250μm（視探頭與基材材質(zhì)而定）
• 分辨率：0.1μm / 1μm（自動轉(zhuǎn)換）
• 測量精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
• 最小曲率：凸面5mm，凹面25mm（分體探頭優(yōu)勢）
• 最小測量面積：直徑10mm
• 最薄基底：Fe 0.4mm， NFe 0.05mm
• 探頭類型：分體式，通過線纜連接主機
• 顯示：背光LCD數(shù)字顯示
• 校準(zhǔn)：零點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)、多點校準(zhǔn)
• 數(shù)據(jù)存儲：通常具備分組存儲功能（具體容量請參考說明書）
• 電源：AA電池或可充電電池
• 工作溫度：0℃ ~ 40℃
• 主機尺寸與重量：約 122mm * 68mm * 32mm， 約 200g（不含探頭）

使用注意事項

• 校準(zhǔn)：使用前必須在與待測工件相同的未涂覆基材上進行零點校準(zhǔn)，并在標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)精度。更換測量基材類型時必須重新校準(zhǔn)。
• 基體影響：測量結(jié)果受基體材質(zhì)、曲率、厚度、表面粗糙度及電磁特性影響�；�體厚度必須大于“最小基底厚度”。
• 表面清潔：確保被測表面清潔，無油污、灰塵、氧化皮及附著物。粗糙表面應(yīng)打磨平整后再測量。
• 探頭放置：測量時，分體探頭需垂直、平穩(wěn)地緊貼被測表面，避免傾斜或晃動。探頭線纜不應(yīng)過度彎折或受力。
• 測量環(huán)境：避免在強磁場、強電場或劇烈振動的環(huán)境中使用。遠離高溫、高濕和腐蝕性氣體。
• 邊緣效應(yīng)：測量點應(yīng)遠離工件邊緣、內(nèi)角或強烈彎曲處，一般需保持距離大于探頭直徑的3倍。
• 電池管理：長期不使用請取出電池，防止電池漏液損壞儀器。電量不足時應(yīng)及時更換，以免影響測量精度。
• 探頭保護：分體探頭為精密部件，避免撞擊、摔落，測量完畢應(yīng)妥善放入保護盒中。探頭端面應(yīng)保持清潔，勿與硬物摩擦。
• 數(shù)據(jù)解讀：對于異常數(shù)據(jù)，應(yīng)在同一區(qū)域多次測量取平均值，并檢查校準(zhǔn)狀態(tài)和表面狀況。不同材質(zhì)（如銅、鉻、鋅等）對測量精度有不同影響。
• 存儲與保養(yǎng)：儀器應(yīng)存放于干燥、陰涼處。定期清潔儀器和探頭。

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