近紅外分光光度計S410
上海雙旭S410近紅外分光光度計
產(chǎn)品概述
上海雙旭S410近紅外分光光度計是一款基于光柵分光原理的實驗室分析儀器，主要用于物質成分的快速、無損定量與定性分析。其工作波段覆蓋近紅外光譜區(qū)域，適用于食品、農產(chǎn)品、制藥、化工等領域的品質控制與研發(fā)。
產(chǎn)品參數(shù)
- 光譜范圍：通常為700-2500 nm（具體范圍可能因配置而異）
- 分光系統(tǒng)：光柵單色器
- 檢測器：PbS或InGaAs檢測器（根據(jù)型號配置）
- 分辨率：≤2 nm（典型值）
- 波長準確性：±0.5 nm
- 波長重復性：±0.2 nm
- 掃描速度：多檔可調
- 光源：鹵鎢燈
- 樣品池：配備多種規(guī)格透射或反射樣品附件
- 數(shù)據(jù)接口：USB或RS-232，連接計算機控制與數(shù)據(jù)處理
- 軟件：配套定量/定性分析軟件，支持模型建立與校正
- 電源要求：AC 220V ±10%，50Hz
- 工作環(huán)境：溫度15-30°C，相對濕度≤70%
使用注意事項
- 環(huán)境要求：儀器應置于穩(wěn)定、無振動、避免陽光直射的工作臺上。遠離強電磁干擾源，保持環(huán)境溫濕度在指定范圍內。
- 預熱：開機后，光源和檢測系統(tǒng)需充分預熱（通常30分鐘以上），以達到穩(wěn)定狀態(tài)，確保數(shù)據(jù)準確性。
- 樣品處理：樣品應均勻、有代表性。使用透射池時，需確保樣品厚度一致且表面清潔；使用反射探頭時，需保證與樣品接觸緊密、位置可重復。
- 校準與背景扣除：定期使用標準參照物進行波長校準。每次測試系列前或環(huán)境變化時，需進行背景（參比）掃描。
- 光源與檢測器保護：避免頻繁開關光源。儀器不使用時，應關閉光源或整機以延長壽命。防止強光直接照射或撞擊檢測器。
- 維護：定期清潔光學窗口和樣品池，使用專用擦鏡紙和清潔劑。避免灰塵、污染物附著。按照手冊要求進行定期性能驗證。
- 數(shù)據(jù)模型：近紅外分析依賴于校正模型。模型僅適用于特定樣品類型和范圍，不可隨意外推。需定期用驗證集更新和評估模型。
- 安全：儀器工作時部分部件可能發(fā)熱，請勿觸摸。更換光源時需斷電并冷卻后進行。遵守電氣設備通用安全規(guī)范。
注：以上信息為基于典型近紅外分光光度計及“雙旭S410”型號名稱的通用描述。具體技術規(guī)格、操作細節(jié)及注意事項請務必以上海雙旭電子有限公司提供的官方說明書為準。 |
