試塊V-2（IIW2）

上海雙旭試塊V-2（IIW2）介紹

產(chǎn)品概述

上海雙旭試塊V-2（IIW2）是一種標(biāo)準(zhǔn)超聲波探傷試塊，符合國(guó)際焊接學(xué)會(huì)（IIW）標(biāo)準(zhǔn)。主要用于超聲波探傷儀的性能測(cè)試、探頭校準(zhǔn)、靈敏度調(diào)整以及缺陷定位和定量評(píng)估。

產(chǎn)品參數(shù)

• 型號(hào)：V-2（IIW2）
• 材質(zhì)：通常為優(yōu)質(zhì)碳鋼或低合金鋼
• 尺寸：約250mm × 100mm × 25mm（長(zhǎng)×寬×高）
• 表面粗糙度：Ra ≤ 1.6μm
• 主要特征：
  • 100mm半徑曲面
  • 25mm厚度臺(tái)階
  • 1.5mm直徑橫孔
  • 5mm直徑平底孔
  • 0.75mm、1.5mm、3mm深度刻槽
• 適用標(biāo)準(zhǔn)：IIW、ISO 2400、GB/T 19799.1等

使用注意事項(xiàng)

• 使用前檢查：使用前需檢查試塊表面是否有銹蝕、劃傷或磨損，確保其精度。
• 清潔保養(yǎng)：使用后應(yīng)及時(shí)清潔試塊表面，涂抹防銹油，并存放于干燥環(huán)境中。
• 避免碰撞：試塊為精密測(cè)量工具，應(yīng)輕拿輕放，避免磕碰或跌落。
• 定期校準(zhǔn)：建議定期將試塊送至專業(yè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn)，確保其測(cè)量準(zhǔn)確性。
• 環(huán)境要求：使用環(huán)境應(yīng)保持清潔，避免灰塵、油污等影響測(cè)量結(jié)果。
• 探頭匹配：根據(jù)檢測(cè)需求選擇合適的探頭，并在試塊上進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)和角度校正。
• 操作規(guī)范：操作人員需經(jīng)過(guò)專業(yè)培訓(xùn)，熟悉超聲波探傷儀和試塊的使用方法。

主要用途

• 超聲波探傷儀的水平和垂直線性測(cè)試
• 探頭入射點(diǎn)、折射角和前沿距離的測(cè)定
• 儀器-探頭組合靈敏度校準(zhǔn)
• 缺陷定位和定量參考
• 檢測(cè)系統(tǒng)分辨力和盲區(qū)評(píng)估

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