磁粉探傷標準試片
上海雙旭磁粉探傷標準試片
產(chǎn)品概述
上海雙旭磁粉探傷標準試片是用于磁粉檢測系統(tǒng)性能校驗與靈敏度評估的關鍵工具。它通過模擬工件表面或近表面的典型缺陷，確保探傷設備的磁化規(guī)范、磁粉性能及操作工藝符合檢測要求，是質(zhì)量控制與標準化的必備器材。
產(chǎn)品參數(shù)
- 材質(zhì)：通常采用低碳鋼或與被測工件相近材質(zhì)的薄片
- 規(guī)格型號：常見有A型、C型、D型等（如A1-7/50、C-8/50、D-6/50），數(shù)字分別表示缺陷槽深度（微米）與試片厚度（毫米）
- 缺陷類型：表面刻有圓形或十字形人工槽縫，模擬裂紋缺陷
- 尺寸范圍：通常為方形或圓形，邊長或直徑在10mm至30mm之間
- 靈敏度等級：按槽深劃分，如高靈敏度（淺槽）、中靈敏度、低靈敏度（深槽）
- 表面處理：部分試片表面鍍有保護層（如鍍鉻）以防銹蝕
- 符合標準：滿足JB/T 6065、GB/T 23907等中國國家標準，部分符合ASTM E1444等國際標準
使用注意事項
- 清潔與維護：使用前需清潔試片表面油污、銹跡，避免雜質(zhì)影響磁痕顯示；使用后應涂防銹油單獨存放
- 貼合要求：粘貼于工件表面時需確保完全貼合，無氣泡或間隙，否則會導致磁化效果失真
- 磁化方向：試片槽縫方向應與磁力線方向垂直，以獲取最清晰磁痕顯示
- 避免損傷：人工槽縫精細，嚴禁劃擦、擠壓或彎曲試片，防止槽形變形失效
- 定期校驗：試片屬消耗品，長期使用后槽縫會磨損，需按標準周期更換或送檢校準
- 環(huán)境匹配：根據(jù)工件材質(zhì)、形狀及檢測標準選擇合適的試片型號與靈敏度等級
- 記錄管理：每次使用應記錄試片型號、磁化參數(shù)及顯示結(jié)果，確保檢測過程可追溯
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